频率

20Hz~200kHz

20Hz~500kHz

20Hz~1MHz

测试参数

L（电感）、Q（品质因素）、D（消耗因素）、C（电容）、Z（阻抗）、X（电抗）、ACR（交流电阻）、θ（相位角）、Y（导纳）、G（电导）、 B（电纳）、Turn ratio（圈数比）

参数范围

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

Rdc:0.1mΩ~>50kΩ

L:  1nH ~ > 1kH

C:  5Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000

Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180^o~+180^o

Turn ratio Np-Ns/Ns-Np/ Ns-Np=n

测试电平

1mV~10Vrms; 50μA~200mA

输出阻抗

50Ω

直流叠加

内置1mA—1A DC Bias或1mA—2A DC Bias(选配)

外置3265B：25mA-50A

外置3265B：25mA-125A

测试模式

测试值读取 / EXCEL格式

多频率测试

差值测试（DELTA）(选配)

可搭配MescoView或FactoryView电脑连机软件

扫描曲线（选配）

多点DC BIAS测试

自动测试（Sequence）

绝缘电阻测试（选配）

通信接口

GPIB / Handler / PASS, FAIL（选配）

温湿度

温度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（储存），湿度>80%

输入电压

使用电源110/230Vac;50~400Hz

标准配件

操作手册，电源线，高频校准电容（仅3260B）

配件

1J1012  SMD二线式测试治具                   1EV1505  四线式测试夹具

1J1014  SMD四线式测试治具                   1EV1905A  探针式测试治具

1EVA40100  测试夹（细齿）                    1EV1006  DIP四线式测试治具（1MHz）

1EVA40180  测试夹（粗齿）                    4N3260TS 高频校准电容

1EVA40120 SMD镊子式测试治具

选配

/A 1mA-1A Internal DC Bias（内置1mA-1A偏置电流）      

/B GPIB (IEEE-488) Interface（GPIB接口）

/U 1mA - 2A Internal DC Bias （1mA-2A内置偏置电流）    

/G Analysis Function (graphs)（分析功能）（仅3260B）

/N Insulation Resistance（绝缘电阻测试）（仅3260B）  

/T LF Telecom Function（通信平衡测试）（仅3260B）

/S Faster DC bias current ramp up and ramp down (NEW)（快速加偏置电流和降偏置电流） 

/D Binning（分选）

尺寸/净重量

尺寸(mm)150/H×440/W×520/D,       净重量11Kg